Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse
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Der Themenband vermittelt Kenntnisse über den Aufbau und die Funktionsweise von Rasterelektronenmikroskopen, informiert über die Vielfalt der Abbildungsmöglichkeiten, gibt praxisbezogen Hinweise auf die Optimierung der Geräteeinstellung für eine optimale Abbildung, führt in die Verfahren zur qualitativen und quantitativen Mikrobereichsanalyse ein, gibt eine Übersicht über Verfahren zur Oberflächenanalytik, informiert über alternative Rastermethoden, gibt Tipps für die Präparation und Beschichtung von Proben, zeigt Einsatzmöglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie für Schadensfalluntersuchungen an Metallen, Keramiken und Polymeren, informiert über die Möglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie in der Halbleitertechnologie und informiert über Zusatzgeräte zur Erweiterung des Einsatzbereiches von REM.
Erscheint im Oktober